El sistema ZITN ZTLWD-G175 de registro de alta-temperatura durante la perforación (LWD) es una solución avanzada de evaluación de formaciones diseñada para los entornos más desafiantes, incluidos pozos ultra-profundos y de alta-presión y alta-temperatura (HPHT). Al integrar una herramienta de resistividad de ondas electromagnéticas y una herramienta de rayos gamma azimutales, proporciona datos de formación precisos y en tiempo real- mientras opera de manera confiable a temperaturas de hasta 175 grados.
El sistema ZITN ZTLWD-G175 de alta-registro de temperatura durante la perforación (LWD) es un activo fundamental para maximizar el éxito en la exploración de yacimientos complejos.
Aplicación del producto
Evaluación de formación en tiempo real-
Proporciona datos inmediatos de resistividad y rayos gamma para identificar litología y zonas con contenido de hidrocarburos-durante la perforación.
Utiliza mediciones de rayos gamma basadas en sectores-para detectar con precisión los límites de la formación y guiar la broca dentro de la sección óptima del yacimiento.
Su probado índice de temperatura de 175 grados garantiza un rendimiento constante y confiabilidad de los datos en las condiciones de fondo de pozo más exigentes.
Permite tomar decisiones-informadas para optimizar los parámetros de perforación y la ubicación del pozo, mejorando la eficiencia y la seguridad.
Características del producto
- Resistencia a temperaturas extremadamente altas-:Certificado para un funcionamiento confiable en175 grados, con rendimiento rigurosamente validado en condiciones HPHT.
- Medición de resistividad de alta-precisión:Utiliza unconjunto de -transmisor cuádruple,-receptor dualyexcitación de doble-frecuencia (400 kHz/2 MHz), respaldado por una compensación dinámica de múltiples-etapas para eliminar los efectos de perforación, invasión y deriva térmica.
- Detección gamma azimutal precisa:Cuenta con un únicoventana de aleación de tungstenoque protege contra la radiación parásita, asegurando una medición direccional precisa de los rayos gamma de formación.
- Diseño totalmente integrado:Combina sensores de resistividad y rayos gamma en unherramienta compacta, simplificando la configuración de BHA al mismo tiempo que ofrece una evaluación integral de la formación.
- Integración de alto-grado:Diseño simplificado conrecuento mínimo de PCBy un esqueleto estructural robusto para una mayor confiabilidad mecánica.
- Mantenibilidad modular:empleaconectores micro-rectangularesy una arquitectura modular para reducir significativamente el tiempo de inactividad por mantenimiento.
- Ajuste de ganancia dinámica:El circuito amplificador adapta automáticamente los ajustes de ganancia para mantener unaalta relación señal-a-ruidoen diferentes condiciones de formación.
Parámetros de especificación
Tabla 1 Parámetros técnicos generales
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Parámetros |
Valores estándar |
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Tamaño de herramienta |
4,75 pulgadas |
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Diámetro exterior del instrumento |
127mm |
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Tamaño del pozo |
149~172 mm |
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Rangos de flujo |
9.5-22.1 L/s |
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Longitud |
3900 mm |
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Conexión |
NC38 |
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Severidad máxima del dogleg |
Orientación: 30 grados 30m Rotación: 12 grados 30m |
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Tensión de alimentación |
24~48V |
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Interfaz de comunicación |
RS485 |
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Conector |
Zócalo de aviación de 13 pines |
Tabla 2 Adaptabilidad ambiental
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Parámetros |
Valores estándar |
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Temperatura de funcionamiento |
-40~+175 grados |
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Temperatura de supervivencia |
-40~+180 grados |
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Presión máxima |
20000psi |
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Contenido de arena |
No superior al 1,5% |
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Tolerancia LCM |
Agente de obstrucción de partículas medianas-finas<100Kgm3 |
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Vibración |
20G RMS, 50-1000Hz |
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Choque |
1000G, 0,5 ms, medio-seno |
Tabla 3 Precisión de medición de resistividad
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Frecuencia |
Método de medición |
Rango de medición |
Precisión de medición |
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400 kHz |
Resistividad de fase |
0.1-500Ω•m |
±2%(0.1～25Ω•m);±1 mS/m(>25Ω•m) |
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Resistividad de amplitud |
0.1-150Ω•m |
±5%(0.1～10Ω•m);±2 mS/m(>10Ω•m) |
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2MHz |
Resistividad de fase |
0.1-500Ω•m |
±2%(0.1～50•m);±0.3 mS/m(>50Ω•m) |
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Resistividad de amplitud |
0.1-100Ω•m |
±2%(0.1～25Ω•m);±1 mS/m(>25Ω•m) |
Tabla 4 Profundidad de detección y resolución vertical
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Resistividad de la zona de lavado Rxo=1Ω·m, resistividad de la formación no perturbada Rt=10Ω·m |
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Medición de amplitud |
Parámetros |
Detección profunda de antena larga RLLA |
Detección superficial de antena larga RLSA |
Detección profunda de antena corta RHLA |
Detección superficial de antena corta RHSA |
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Profundidad de detección |
45 pulgadas |
37 pulgadas |
33 pulgadas |
27 pulgadas |
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114,3 cm |
93,98cm |
83,82cm |
68,58 cm |
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Resolución vertical |
12 pulgadas |
12 pulgadas |
10 pulgadas |
10 pulgadas |
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|
30,48 cm |
30,48 cm |
25,4 cm |
25,4 cm |
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Medición de fase |
Parámetros |
Antena larga de detección profunda RLLP |
RLSP de detección superficial de antena larga |
Detección profunda de antena corta RHLP |
Detección superficial de antena corta RHSP |
|
Profundidad de detección |
29 pulgadas |
22 pulgadas |
23 pulgadas |
18 pulgadas |
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|
73,66 cm |
55,88cm |
58,42 cm |
45,72 cm |
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|
Resolución vertical |
8 pulgadas |
8 pulgadas |
6 pulgadas |
6 pulgadas |
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|
20,32 cm |
20,32 cm |
15,24 cm |
15,24 cm |
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Resistividad de la zona de lavado Rxo=10Ω·m, resistividad de la formación no perturbada Rt=100Ω·m |
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Medición de amplitud |
Parámetros |
Detección profunda de antena larga RLLA |
Detección superficial de antena larga RLSA |
Detección profunda de antena corta RHLA |
Detección superficial de antena corta RHSA |
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Profundidad de detección |
78 pulgadas |
72 pulgadas |
56 pulgadas |
48 pulgadas |
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198,12cm |
182,88cm |
142,24 cm |
121,92cm |
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Resolución vertical |
12 pulgadas |
12 pulgadas |
10 pulgadas |
10 pulgadas |
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|
30,48 cm |
30,48 cm |
25,4 cm |
25,4 cm |
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|
Medición de fase |
Parámetros |
Antena larga de detección profunda RLLP |
RLSP de detección superficial de antena larga |
Detección profunda de antena corta RHLP |
Detección superficial de antena corta RHSP |
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Profundidad de detección |
44 pulgadas |
32 pulgadas |
36 pulgadas |
26 pulgadas |
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111,76cm |
81,28cm |
91,44 cm |
66,04 cm |
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|
Resolución vertical |
8 pulgadas |
8 pulgadas |
6 pulgadas |
6 pulgadas |
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20,32 cm |
20,32 cm |
15,24 cm |
15,24 cm |
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Acerca de ZITN LWD
ZITN mantiene un firme compromiso con la I+D en su línea de productos de temperatura ultra-alta-. A través de avances sistemáticos - desde chips y módulos hasta sensores, circuitos completos y sistemas de herramientas totalmente integrados -, hemos superado constantemente numerosos desafíos técnicos de temperaturas extremas-.
Proceso característico: proceso de integración híbrida de película gruesa-MCM
El circuito integrado híbrido de película gruesa-MCM (módulo multichip) de alta-temperatura aborda fundamentalmente tres riesgos de calidad principales que enfrentan los instrumentos de medición-durante-perforación (MWD) durante el funcionamiento desde las perspectivas del principio de implementación y la estructura física: fallas por alta-temperatura de los componentes electrónicos, fallas en las conexiones eléctricas y resistencia insuficiente a los golpes de los circuitos.
PCB de 175 grados + módulo de paquete
Instalaciones y equipos estandarizados/especializados y pruebas estandarizadas
Línea de producción de instrumentos de registro
1.Montaje del instrumento
2.Calibración y depuración de instrumentos
3.Pruebas de instrumentos
Inspección y pruebas
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